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400-635-0567Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
標準 推薦性 現行標準《電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態晶體二氧化硅含量的測試方法 XRD法》由TC203(半導體設備和材料標準化技術委員會)歸口上報及執行,主管部門為標準化管理委員會。
硅材料深加工產品質量監督檢驗中心 、江蘇聯瑞新材料股份有限公司 、漢高華威電子有限公司 。
封麗娟 、李冰 、陳進 、夏永生 、曹家凱 、呂福發 、阮建軍 、王松憲 。
20141079-T-469 電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態晶體二氧化硅含量的測試方法 XRD法
GB/T 32661-2016 球形二氧化硅微粉
20082071-T-609 球形二氧化硅微粉
20067338-T-605 電爐回收二氧化硅微粉
GB/T 21236-2007 電爐回收二氧化硅微粉
20060890-T-605 螢石 二氧化硅含量的測定
GB/T 5195.8-2006 螢石 二氧化硅含量的測定
20141080-T-469 電子封裝用球形二氧化硅微粉球形度的檢測方法 顆粒動態光電投影法
GB/T 37406-2019 電子封裝用球形二氧化硅微粉球形度的檢測方法 顆粒動態光電投影法
SJ/T 10675-2002 電子及電器工業用二氧化硅微粉