金飾品中金含量的測定（X射線熒光光譜法）

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金飾品中金含量的測定（X射線熒光光譜法）

金飾品中的金含量是衡量其純度和價值的重要指標，而使用X射線熒光光譜法進行測定是一種、無損且精確的分析手段。該方法基于X射線照射樣品后，測量元素激發產生的熒光光譜強度，從而準確計算金飾品中金的含量。相較于傳統的火試金法或化學分析法，X射線熒光光譜法不僅避免了樣品的破壞，還具有操作簡便、分析速度快、重復性高等優點，廣泛應用于珠寶行業、貴金屬交易和品質控制領域。在檢測過程中，需考慮樣品的均勻性、表面狀態以及可能存在的干擾元素，以確保結果的可靠性。本文將介紹金含量測定中的檢測項目、檢測儀器、檢測方法及檢測標準，為相關從業人員提供實用的技術參考。

檢測項目

金飾品中金含量的測定主要關注以下幾個檢測項目：首先是金的純度，通常以千分比（例如999‰或24K）表示，反映金在飾品中的質量分數；其次是可能存在的雜質元素，如銀、銅、鋅、鎳等，這些元素會影響金的成色和性能，需通過X射線熒光光譜法進行定量分析；此外，還需檢測飾品的均勻性，確保金含量在不同部位的一致性，避免因加工工藝導致的成分分布不均。對于鍍金或包金飾品，還需區分表層與基體的金含量，以防止誤導性結果。綜合這些項目，可以全面評估金飾品的質量和合規性。

檢測儀器

X射線熒光光譜儀是金含量測定的核心儀器，其主要由X射線源、樣品臺、探測器和數據處理系統組成。X射線源產生高能X射線，照射樣品后激發元素發出特征X射線熒光；探測器（如硅漂移探測器）捕獲這些熒光信號，并將其轉換為電信號；數據處理系統則通過軟件分析光譜峰值，計算金的含量。現代儀器常配備真空或氦氣環境以減少空氣干擾，提高檢測精度。此外，為確保準確性，儀器需定期使用標準樣品進行校準，并具備自動補償功能，以處理樣品形狀或表面差異帶來的誤差。常見的商用儀器包括手持式XRF分析儀和臺式XRF光譜儀，前者便于現場快速篩查，后者適用于實驗室高精度分析。

檢測方法

使用X射線熒光光譜法測定金含量的方法包括樣品準備、儀器校準、測量和數據分析四個步驟。首先，樣品需清潔表面污染物（如油脂或氧化物），以確保測量不受干擾；對于不規則形狀的飾品，可采用打磨或壓平處理，但需謹慎以避免改變成分。其次，儀器使用已知金含量的標準樣品進行校準，建立熒光強度與金含量的關系曲線。測量時，將樣品置于儀器樣品臺，X射線束照射特定區域（通常選擇多個點取平均值），采集熒光光譜數據。數據分析階段，通過軟件識別金的特征峰（如Lα或Kα線），并利用校準曲線計算金含量，同時校正可能的重疊峰或基質效應。整個 process 需在 controlled 環境下進行，重復測量以確保結果的可重復性，誤差一般控制在±0.1%以內。

檢測標準

金含量測定的檢測標準主要依據和行業規范，以確保結果的準確性和可比性。常用的標準包括ISO 11426:2014（珠寶首飾-金含量的測定-火試金法及X射線熒光光譜法），該標準詳細規定了XRF法的樣品處理、儀器要求和數據處理程序；此外，中國標準GB/T 18043-2013（首飾貴金屬含量的測定-X射線熒光光譜法）提供了具體的操作指南和誤差限值。這些標準強調校準需使用經認證的標準物質，測量結果需進行不確定度評估，并定期參與實驗室間比對。對于商業應用，還需符合行業自律規范，如世界黃金協會的指導原則，確保檢測報告透明可靠。遵守這些標準不僅提升檢測質量，還保障消費者權益和市場公平交易。